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医用電子工学、自動車電子部品、電力供給設備、機械工学アプリケーション領域では、小信号測定と、大信号測定からの信号詳細を解析するために高解像度デジタル信号処理ソリューションが必要です。
 

 

X-Visual技術プラットホームはLilliput(OWON)が開発した新世代設計思想です。OWON XDS3000 n-in-1オンサイト測定ステーションは、マルチ機能を1ユニットに統合し全ての要件を満足するために開発されました。

 

3つの大きな特徴として低バックグラウンド・ノイズ、40Mの最大レコード長、そして、75,000のwfms/s高速波形リフレッシュ・レートです。そのパフォーマンスとともにXDSシリーズ製品は、データ・ロガー、マルチメータ、波形発生装置、DSO等を1つの装置に統合します。

 

この製品は、テストと測定器の次の革新への新しい流れを導きます。
 

  • OWON XDS3000シリーズn-in-1
    モデル バンド幅 サンプルレート 縦軸分解能 (A/D) レコード長
    XDS3062A 60MHz 1GS/s 12 bits 40M
    XDS3102A 100MHz 1GS/s 12 bits 40M
    XDS3202A 200MHz 1GS/s 14 bits 40M
    XDS3102 100MHz 1GS/s 8 bits 40M
    XDS3202 200MHz 2GS/s 8 bits 40M
    XDS3302 300MHz 2.5GS/s 8 bits 40M
    XDS3202E 200MHz 1GS/s 8 bits 40M
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